Природа термостабільності та втрат у мікрохвильових діелектриках з високою діелектричною проникністю

Автор(и)

  • Юрій Михайлович Поплавко Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» , Україна image/svg+xml https://orcid.org/0000-0003-2012-4556
  • Юрій Вікторович Діденко Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» , Україна image/svg+xml Донецкий физико-технический институт им. А.А.Галкина , Україна image/svg+xml https://orcid.org/0000-0001-7305-8519
  • Костянтин Сергійович Мазур Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» , Україна image/svg+xml https://orcid.org/0000-0001-5462-0342

DOI:

https://doi.org/10.20535/S0021347025020025

Анотація

Для мікрохвильової електроніки потрібні діелектрики з високою діелектричною проникністю та малими втратами. Як основа композитів перспективними є «жорсткі» параелектрики, такі як рутил або перовскіт, які характеризуються слабкозатухаючою м’якою поперечною оптичною модою коливань кристалічної ґратки й не сприяють утворенню полярних фаз. Природну температурну нестабільність діелектричної проникності параелектриків можна придушити введенням парамагнітних іонів лантаноїдів. Відносно низькі втрати у НВЧ-діапазоні можуть бути досягнуті тільки в однофазних композиціях і за відсутності в структурі полярних включень. У цій статті зроблено спробу пояснити фізичну природу температурної стабільності діелектричної проникності та втрат, які вносить полярна фаза.

Опубліковано

2026-02-08

Як цитувати

Поплавко, Ю. М., Діденко, Ю. В., & Мазур, К. С. (2026). Природа термостабільності та втрат у мікрохвильових діелектриках з високою діелектричною проникністю. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка. https://doi.org/10.20535/S0021347025020025

Номер

Розділ

Оригінальні статті