Алгоритм расчета значений чувствительности вторичных параметров временных характеристик электронных схем

Автор(и)

  • Анатолий Иванович Петренко Национальный технический университет Украины "Киевский политехнический институт", Україна
  • В. В. Ладогубец
  • А. И. Цирфа

DOI:

https://doi.org/10.20535/S002134701988010212

Анотація

При решении многих задач схемотехнического проектирования, таких как параметрическая оптимизация, анализ и синтез допусков, локализация неисправностей, центрирование области работоспособности, необходимо определять значения чувствительностей выходных характеристик к изменению значений параметров отдельных компонентов электронных схем. Если в качестве выходных характеристик используются токи компонентов или узловые потенциалы схемы, то искомые величины находят с помощью хорошо известных алгоритмов моделирования чувствительности [1, 2].

Посилання

Петренко, А. И.; Тимченко, А. П.; Власов, А. И. Машинные методы анализа чувствительности линейных и нелинейных электронных цепей. — М. : Машиностроение, 1980. — 56 с.

Райншке, К. Модели надежности и чувствительности систем. — М. : Мир, 1978. — 452 с.

Норенков, И. П.; Мулярчик, С. Г.; Иванов, С. Р. Экстремальные задачи при схемотехническом проектировании. — Минск : БГУ, 1976. — 240 с.

Петренко, А. И.; Тимченко, А. П.; Ладогубец, В. В.; Мачуговский, В. С. Подсистема ПРАМ-01 анализа и оптимизации РЭА. Теоретические и прикладные вопросы разработки, внедрения и эксплуатации САПР РЭА. — М. : МАИ, 1983. — С. 60–62.

Опубліковано

1988-01-22

Як цитувати

Петренко, А. И., Ладогубец, В. В., & Цирфа, А. И. (1988). Алгоритм расчета значений чувствительности вторичных параметров временных характеристик электронных схем. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 31(1), 90–91. https://doi.org/10.20535/S002134701988010212

Номер

Розділ

Короткі повідомлення