Измерение сопротивления базы в. ч. и СВЧ транзисторов

Автор(и)

  • Г. Е. Леонтьев
  • В. П. Паленскис
  • Ю. А. Мешкуотис

DOI:

https://doi.org/10.20535/S002134701975110118

Анотація

Рассмотрены наиболее распространенные методы измерения базового сопротивления транзисторов. Показано, что способ определения базового сопротивления по измерениям коэффициента шума не имеет недостатков, свойственных применяемым в настоящее время другим методам. Приведена номограмма для быстрого определения базового сопротивления по измерениям коэффициента шума.

Посилання

СВЧ-полупроводниковые приборы и их применение / Под ред. Г. Уотсона. — М. : Мир, 1972.

Кук Г. Ф. Вопросы теории и проектирования СВЧ-транзисторов / Г. Ф. Кук // ТИИЭР. — 1971. — Т. 59, № 8. — С. 35.

Gibbоns J. F. Low-frequency noise figure and its application to the measurement of certain transistor parameters / J. F. Gibbоns // IRE Trans. Electron Devices. — 1962. — ED-9, No. 5. — P. 308.

Chenette E. R. Measurement of the correlation between flicker noise sources in transistor / E. R. Chenette // PIRE. — 1960. — Vol. 47, No. 1. — P. 111.

Спиридонов H. С. Дрейфовые транзисторы / H. С. Спиридонов, В. И. Ветроградов. — М. : Сов. радио, 1964.

Гхош. Проектирование, определение характеристик транзисторов и их оптимизация с помощью вычислительной машины / Гхош, Де-Ла-Монеда, Доно // ТИИЭР. — 1967. — Т. 55, № 11. — С. 135.

Транзисторы, параметры, методы измерений и испытаний / Под ред. Н. Г. Бергельсона, Ю. А. Каменецкого, Н. Ф. Николаевского. — М. : Сов. радио, 1968.

Ван-дер-Зил А. Шум, источники, описание, измерение / А. Ван-дер-Зил. — М. : Сов. радио, 1973.

Опубліковано

1975-11-11

Як цитувати

Леонтьев, Г. Е., Паленскис, В. П., & Мешкуотис, Ю. А. (1975). Измерение сопротивления базы в. ч. и СВЧ транзисторов. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 18(11), 59–62. https://doi.org/10.20535/S002134701975110118

Номер

Розділ

Оригінальні статті