Электротепловой анализ мощных субмикронных полевых гетеротранзисторов на основе нитрида галлия

Автор(и)

  • Владимир Иванович Тимофеев Национальный технический университет Украины "Киевский политехнический институт", Україна https://orcid.org/0000-0003-0515-1580
  • Елена Владимировна Семеновская Национальный технический университет Украины "Киевский политехнический институт", Україна https://orcid.org/0000-0003-2421-4903
  • Елена Михайловна Фалеева Национальный технический университет Украины "Киевский политехнический институт", Україна https://orcid.org/0000-0002-0977-6900

DOI:

https://doi.org/10.20535/S0021347016020035

Ключові слова:

субмикронный гетероструктурный транзистор, нитрид галлия, тепловые поля, эффект саморазогрева, частотные характеристики усиления

Анотація

Рассмотрены физические процессы и факторы саморазогрева в мощном субмикронном полевом гетеротранзисторе. Предложены математические модели и проведен электротепловой анализ параметров и характеристик гетеротранзистора. На основе анализа температурных полей показано влияние тепловых процессов на параметры схемной модели и выходные частотные характеристики субмикронного гетеротранзистора. Установлена зависимость теплового сопротивления транзистора от его геометрических и теплофизических параметров.

Посилання

Фарлоу С. Уравнения с частными производными для научных работников и инженеров / С. Фарлоу. — М. : Мир, 1985. — 384 с.

Карташов Э. М. Аналитические методы в теории теплопроводности твердых тел / Э. М. Карташов. — М. : Высшая школа, 2001. — 550 с.

Дульнев Г. Н. Методы расчета теплового режима приборов / Г. Н. Дульнев, В. Г. Парфенов, А. В. Сигалов. — М. : Радио и связь, 1990. — 312 с.

Вержбицкий В. М. Основы численных методов / В. М. Вержбицкий. — М. : Высшая школа, 2002. — 840 с.

Сегерлинд Л. Применение метода конечных элементов / Л. Сегерлинд. — М. : Мир, 1979. — 392 с.

Зарубин В. С. Инженерные методы решения задач теплопроводности / В. С. Зарубин. — М. : Энергоатомиздат, 1983. — 328 с.

Самарский А. А. Вычислительная теплопередача / А. А. Самарский, П. Н. Вабишевич. — М. : Едиториал УРСС, 2003. — 784 с.

Бенерджи П. Методы граничных элементов / П. Бенерджи, Р. Баттерфилд. — М. : Мир, 1984. — 494 с.

Коваль В. А. Автоматизация теплового проектирования микроэлектронных устройств средствами САПР / В. А. Коваль, Д. В. Федасюк, В. В. Маслов, В. Ф. Тарновский. — Л. : Вища Школа, 1988. — 256 с.

Мельников А. А. Расчет температурных полей в многослойных фотоприемных структурах / А. А. Мельников // Микросистемная техника. — 2000. — № 2. — С. 21–26. — Режим доступа : http://elibrary.ru/item.asp?id=8970752.

Lee S.-S. Electrothermal simulation of integrated circuits / Sang-Soo Lee, D. J. Allstot // IEEE J. Solid-State Circuits. — Dec. 1993. — Vol. 28, No. 12. — P. 1283–1293. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/4.262001.

Turkes P. Electro-thermal simulation of power electronic systems / P. Turkes, J. Sigg // Microelectron. J. — Nov. 1998. — Vol. 29, No. 11. — P. 785–790. — DOI : http://dx.doi.org/10.1016/S0026-2692(97)00092-X.

Петросянец К. О. Моделирование тепловых режимов электронных компонентов / К. О. Петросянец // Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА : XII Научно-технич. конф. : тр. — М. : МНТОРЭС, 2013. — С. 229–232.

Darwish A. M. Thermal resistance calculation of AlGaN–GaN devices / A. M. Darwish, A. J. Bayba, H. A. Hung // IEEE Trans. Microwave Theory Tech. — Nov. 2004. — Vol. 52, No. 11. — P. 2611–2620. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/TMTT.2004.837200.

Сверхбыстродействующие приборы электроники : Учебное пособие / В. А. Москалюк, В. И. Тимофеев, А. В. Федяй. — К. : НТУУ КПИ, 2012. — 479 с.

Timofeyev V. Thermal resistance of power submicron heterojunction field-effect transistors / V. Timofeyev, H. Semenovskaya // Electronics and Nanotechnology : IEEE 33 Int. Sci. Conf. ELNANO, 16–19 Apr. 2013, Kyiv, Ukraine : proc. — IEEE, 2013. — P. 47–50. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/ELNANO.2013.6552007.

Timofeyev V. I. Model of heterotransistor with quantum dots / V. I. Timofeyev, E. M. Faleyeva // Semicond. Phys. Quantum Electron. Optoelectron. — 2010. — Vol. 13, No. 2. — Р. 186–188. — URL : http://journal-spqeo.org.ua/n2_2010/v13n2-2010-p186-188.pdf.

Timofeyev V. I. Thermal analysis of power heterostructure field-effect transistors / V. I. Timofeyev, E. M. Faleyeva, E. V. Semenovskaya // Electronics and Nanotechnology : IEEE 35 Int. Sci. Conf. ELNANO, 21–24 Apr. 2015, Kyiv, Ukraine : proc. — IEEE, 2015. — P. 239–241. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/ELNANO.2015.7146882.

Опубліковано

2016-02-20

Як цитувати

Тимофеев, В. И., Семеновская, Е. В., & Фалеева, Е. М. (2016). Электротепловой анализ мощных субмикронных полевых гетеротранзисторов на основе нитрида галлия. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 59(2), 23–32. https://doi.org/10.20535/S0021347016020035

Номер

Розділ

Оригінальні статті