Сравнение методов получения фазовых фотоответных изображений при сканировании полупроводниковых гетероструктур перпендикулярно плоскости p–n перехода

Автор(и)

  • Сергей Александрович Коленов Киевский национальный университет имени Тараса Шевченко, Україна https://orcid.org/0000-0001-5408-1983

DOI:

https://doi.org/10.20535/S0021347015040068

Ключові слова:

дифференциально-фазовый метод, p-n переход, фотоэлектрический отклик, фазовые измерения

Анотація

Проведен сравнительный анализ фазовых методов исследования фотоэлектрического отклика на примере сканирования полупроводниковой структуры лазерного диода на основе AlGaInP в направлении, перпендикулярном плоскости p–n перехода. Экспериментально выявлено и теоретически обосновано различие в результатах, получаемых с помощью фазового и дифференциально-фазового методов исследования. Показано, что дифференциально-фазовый метод исследования позволяет получать дополнительную информацию об оптических свойствах материалов гетероструктуры, которая отсутствует в результатах, получаемых фазовым методом.

Біографія автора

Сергей Александрович Коленов, Киевский национальный университет имени Тараса Шевченко

Доцент кафедры квантовой радиофизики факультета радиофизики, электроники и компьютерных систем

Посилання

Гременок В. Ф. Солнечные элементы на основе полупроводниковых материалов / В. Ф. Гременок, М. С. Тиванов, В. Б. Залесский. — Минск : БГУ, 2007. — 222 с.

Якимов Е. Б. Наблюдение дефектов солнечных элементов методами электролюминесценции, LBIC и EBIC / Е. Б. Якимов, В. И. Орлов // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2014. — № 9. — С. 5–8. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/PVSC.2002.1190554.

Pernau Th. Phase-sensitive LBIC analysis / Th. Pernau, P. Fath, E. Bucher // Photovoltaic Specialists : IEEE 29 Conf., 19–24 May 2002, Konstanz. — IEEE, 2002. — P. 442–445. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/PVSC.2002.1190554.

Nguyen M. Quantitative defect analysis on solar cells by laser beam induced current (LBIC) measurements and 3D network simulations / Minh Nguyen, Andreas Schütt, Jurgen Carstensen, Helmut Foll // MRS Proc. — 2013. — Vol. 1493. — P. 195–200. — DOI : http://dx.doi.org/10.1557/opl.2013.232.

Ільченко Л. М. Про вклади у фазу диференційно-фазового фотовідповідного сигналу / Л. М. Ільченко, С. О. Колєнов, С. В. Литвиненко, П. В. Молочко, Ю. В. Виноградов // Вісник Київського Національного університету ім. Тараса Шевченка. — 2009. — № 1. — С. 180–183. — (Серія: Фізико-математичні науки).

Ilchenko L. N. About phase components of differential-phase LBIC from p-n junction transversal plane scanning / L. N. Ilchenko, S. O. Kolenov, S. V. Litvinenko, P. V. Volochko // Laser and Fiber-Optical Networks Modeling : 10th Int. Conf. LFNM, 12–14 Sept. 2010, Crimea, Ukraine. — Sevastopol : IEEE, 2010. — P. 195–197. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/LFNM.2010.5624200.

Рывкин С. М. Фотоэлектрические явления в полупроводниках / С. М. Рывкин. — М. : Физматгиз, 1963. — 496 c.

Molebny V. V. Three-beam scanning laser radar microprofilometer / Vasyl V. Molebny, Gary W. Kamerman, Eugene M. Smirnov, Leonid M. Ilchenko, Sergiy O. Kolenov, Vadym O. Goncharov // Proc. SPIE. — 1998. — Vol. 3380. — P. 280–283. — DOI : http://dx.doi.org/10.1117/12.327200.

HL6504FM – Visible High Power Laser Diode for DVD-RAM by Hitachi. — Режим доступа : http://www.datasheetlib.com/datasheet/1297173/hl6504fm_hitachi-semiconductor.html.

Xu Y. Optical analysis of AlGaInP laser diodes with real refractive index guided self-aligned structure / Yun Xu, Xiaopeng Zhu, Xiaojun Ye, Xiangning Kang, Qing Cao, Liang Guo, Lianghui Chen // Proc. SPIE. — 2004. — Vol. 5280. — P. 29–37. — DOI : http://dx.doi.org/10.1117/12.520418.

Опубліковано

2015-04-24

Як цитувати

Коленов, С. А. (2015). Сравнение методов получения фазовых фотоответных изображений при сканировании полупроводниковых гетероструктур перпендикулярно плоскости p–n перехода. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 58(4), 50–58. https://doi.org/10.20535/S0021347015040068

Номер

Розділ

Оригінальні статті