Ближнеполевая СВЧ томография приповерхностного слоя диэлектриков

Автор(и)

  • Ю. А. Гайдай Киевский национальный университет им. Т. Шевченко, Україна
  • Владимир Семенович Сидоренко Киевский национальный университет им. Т. Шевченко, Україна
  • Олег Владимирович Синькевич Киевский национальный университет им. Т. Шевченко, Україна

DOI:

https://doi.org/10.20535/S0021347012030041

Ключові слова:

томография, 3D визуализация, СВЧ томография

Анотація

Предложен метод 3D визуализации структуры диэлектрических объектов с малыми потерями на основе данных сканирования ближнеполевым СВЧ микроскопом. Теоретическая модель подтверждена с помощью экспериментальных исследований ряда тестовых объектов. Исследована возможность использования зондов со сложной геометрией для дефектоскопии диэлектриков и анализа объемных неоднородностей.

Біографія автора

Ю. А. Гайдай, Киевский национальный университет им. Т. Шевченко

Гайдай Ю. А.

Посилання

Through–wall and wall microwave tomography imaging / A. A. Vertiy, S. P. Gavrilov, V. N. Stepanyuk, I. V. Voynovskyy // Antennas and Propagation Society Int. Symp. IEEE. — 2004. — Vol. 3. — P. 3087–3090.

Quantitative imaging using a 2.45 GHz planar camera / T. Gunnarsson, N. Joachimowicz, A. Diet, et al. // 5th World Congress on Industrial Process Tomography, 2007, Bergen, Norway. — Bergen, 2007.

Jaworski A. J. Application of electrical capacitance tomography for measurement of gas–solid flow characteristics in a pneumatic conveying system / A. J. Jaworski and T. Dyakowski // Meas. Sci. Technol. — 2001. — No. 12. — Р. 1109–1119.

Rosner B. T. High–frequency near–field microscopy / B. T. Rosner, D. W. van der Weide // Rev. Sci. Instr. — 2002. — Vol. 73, No. 7. — P. 2505–2522.

Гайкович К. П. Сканирующая ближнепольная электромагнитная томография / К. П. Гайкович // Нано- и микросистемная техника. — 2007. — № 8. — C. 50–65.

Kanzow C. Levenberg–Marquardt methods for constrained nonlinear equations with strong local convergence properties / C. Kanzow, N. Yamashita, and M. Fukushima // J. Comput. Appl. Math. — 2004. — 172. — P. 375–397.

Ближньопольовий мікрохвильовий мікроскоп з активним зондом / Ю. О. Гайдай, В. С. Сидоренко, О. В. Сінькевич, С. В. Кіпоть, В. Ореховський // Вісник Київського Національного університету ім. Тараса Шевченка. Серія: Радіофізика та електроніка. — 2006. — Вип. 9.

Опубліковано

2012-03-29

Як цитувати

Гайдай, Ю. А., Сидоренко, В. С., & Синькевич, О. В. (2012). Ближнеполевая СВЧ томография приповерхностного слоя диэлектриков. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 55(3), 37–42. https://doi.org/10.20535/S0021347012030041

Номер

Розділ

Оригінальні статті