Ближнеполевая СВЧ томография приповерхностного слоя диэлектриков

Ю. А. Гайдай; Владимир Семенович Сидоренко; Олег Владимирович Синькевич

doi:10.20535/S0021347012030041

Автор(и)

Ю. А. Гайдай Киевский национальный университет им. Т. Шевченко, Україна
Владимир Семенович Сидоренко Киевский национальный университет им. Т. Шевченко, Україна
Олег Владимирович Синькевич Киевский национальный университет им. Т. Шевченко, Україна

DOI:

https://doi.org/10.20535/S0021347012030041

Ключові слова:

томография, 3D визуализация, СВЧ томография

Анотація

Предложен метод 3D визуализации структуры диэлектрических объектов с малыми потерями на основе данных сканирования ближнеполевым СВЧ микроскопом. Теоретическая модель подтверждена с помощью экспериментальных исследований ряда тестовых объектов. Исследована возможность использования зондов со сложной геометрией для дефектоскопии диэлектриков и анализа объемных неоднородностей.

Посилання

Through–wall and wall microwave tomography imaging / A. A. Vertiy, S. P. Gavrilov, V. N. Stepanyuk, I. V. Voynovskyy // Antennas and Propagation Society Int. Symp. IEEE. — 2004. — Vol. 3. — P. 3087–3090.
Quantitative imaging using a 2.45 GHz planar camera / T. Gunnarsson, N. Joachimowicz, A. Diet, et al. // 5th World Congress on Industrial Process Tomography, 2007, Bergen, Norway. — Bergen, 2007.
Jaworski A. J. Application of electrical capacitance tomography for measurement of gas–solid flow characteristics in a pneumatic conveying system / A. J. Jaworski and T. Dyakowski // Meas. Sci. Technol. — 2001. — No. 12. — Р. 1109–1119.
Rosner B. T. High–frequency near–field microscopy / B. T. Rosner, D. W. van der Weide // Rev. Sci. Instr. — 2002. — Vol. 73, No. 7. — P. 2505–2522.
Гайкович К. П. Сканирующая ближнепольная электромагнитная томография / К. П. Гайкович // Нано- и микросистемная техника. — 2007. — № 8. — C. 50–65.
Kanzow C. Levenberg–Marquardt methods for constrained nonlinear equations with strong local convergence properties / C. Kanzow, N. Yamashita, and M. Fukushima // J. Comput. Appl. Math. — 2004. — 172. — P. 375–397.
Ближньопольовий мікрохвильовий мікроскоп з активним зондом / Ю. О. Гайдай, В. С. Сидоренко, О. В. Сінькевич, С. В. Кіпоть, В. Ореховський // Вісник Київського Національного університету ім. Тараса Шевченка. Серія: Радіофізика та електроніка. — 2006. — Вип. 9.