Изменение эффективной толщины переходного слоя, стимулированного СВЧ излучением, в контактах Mo–GaAs

Автор(и)

  • Амангелди Базарбаевич Камалов Комплексный институт естественных наук каракалпакское отделение Академии наук республики Узбекистан, Узбекистан

DOI:

https://doi.org/10.20535/S0021347009100057

Анотація

Экспериментально методом ОЖЕ электронной спектроскопии изучено влияние СВЧ обработки на изменение величины эффективной толщины переходного слоя в контактах Mo–GaAs. Показано, что параметры барьеров Шоттки (высота барьера φВ и фактор идеальности n) коррелируют с изменением эффективной толщины переходного слоя после СВЧ обработки.

Посилання

Нетушил А. Б. Высокочастотный нагрев диэлектриков и полупроводников / А. Б. Нетушил, Б. Я. Жуховицкий, В. Н. Кудин, Е. П. Парини. — М. : Госэнергоиздат, 1959. — 480 с.

Ковнеристый Ю. К. Материалы, поглощающие СВЧ излучения / Ю. К. Ковнеристый, И. Ю. Лазарева, А. А. Раваев. — М. : Наука, 1982. — 163 с.

Сировец П. А. Промышленные применение СВЧ-техники / П. А. Сировец. — К. : Укр НИИНТИ Госплана УССР, 1990. — 64 с.

Horton J. B. Selected technology summaries for microwave theory and techniques–1988 / J. B. Horton // IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. — 1989. — Vol. 37, No. 6. — Р. 1040–1053.

Ржанов А. В. СВЧ нагрев как метод термообработки полупроводников / А. В. Ржанов, Н. Н. Герасименко, А. В. Васильев, В. И. Ободников // Письма в ЖТФ. — 1981. — Т. 7, № 20. — С. 1221–1223.

Влияние сверхвысокочастотной обработки на электрофизические характеристики технически важных полупроводников и поверхностно-барьерных структур / А. А. Беляев, А. Е. Беляев, И. В. Ермолович, С. М. Комиренко и др. // ЖТФ. — 1998. — Т. 68, № 12. — С. 49–53.

Релаксация внутренних механических напряжений в арсенидгаллиевых приборных структурах, стимулированная микроволновой обработкой / Н. С. Болтовец, А. Б. Камалов, Е. Ю. Колядина, Р. В. Конакова и др. // Письма в ЖТФ. — 2002. — Т. 28, № 4. — С. 57–64.

Статов В. А. Исследование физики межфазных взаимодействий на границе раздела тугоплавкий металл-GaAs / В. А. Статов // Автореферат диссертации на соискание ученой степени к.ф.м.н. — К. : ИФП НАНУ, 1996. — 18 c.

О влиянии внутренних механических напряжений на механизм формирования и параметры барьерных структур Cr–GaAs / Ю. Бреза, Р. В. Конакова, В. Г. Ляпин, В. В. Миленин и др. // Поверхность. — 1994. — № 6. — С. 103–109.

Межфазные взаимодействия и механизмы деградации в структурах металл InP и металл-GaAs / Под общ. ред. д.т.н. Р. В. Конаковой и д.ф.м.н. Г. С. Коротченкова. — К. : [б.и.] 1999. — 233 с.

Стриха В. И. Физические основы надежности контактов металл-полупроводник в интегральной электронике / В. И. Стриха, Е. В. Бузанева. — М. : Радио и связь, 1987. — 254 с.

Зи С. М. Физика полупроводниковых приборов : в 2-х книгах : пер. с англ. / С. М. Зи; под ред. Р. А. Суриса. — М. : Мир, 1984. — Кн. 1. — 456 с. ; Кн. 2. — 456 с.

Опубліковано

2009-10-05

Як цитувати

Камалов, А. Б. (2009). Изменение эффективной толщины переходного слоя, стимулированного СВЧ излучением, в контактах Mo–GaAs. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 52(10), 46–51. https://doi.org/10.20535/S0021347009100057

Номер

Розділ

Оригінальні статті