Повышение быстродействия измерения комплексных параметров микроволновых устройств методом 12-полюсного рефлектометра

Юрий Борисович Гимпилевич; Валерий Викторович Вертегел; Виктор Иванович Носкович

doi:10.20535/S0021347007100093

Повышение быстродействия измерения комплексных параметров микроволновых устройств методом 12-полюсного рефлектометра

Автор(и)

Юрий Борисович Гимпилевич Севастопольский национальный технический университет, Україна
Валерий Викторович Вертегел Севастопольский национальный технический университет, Україна
Виктор Иванович Носкович Севастопольский национальный технический университет, Україна

DOI:

https://doi.org/10.20535/S0021347007100093

Анотація

Предложен новый способ определения модуля и аргумента комплексного коэффициента отражения микроволновых устройств, основанный на методе 12-полюсного рефлектометра. Способ исключает необходимость решения измерительных уравнений относительно искомых параметров, что позволяет увеличить быстродействие измерений в панорамном режиме.

Посилання

Hesselbarth J. Two New Six–Port Reflectometers Covering Very Large Bandwidth / J. Hesselbarth, F. Wiedman, B. Huyart // IEEE Trans. Instrum., Meas. — 1997. — Vol. 46. No. 4. — P. 966–969.
Chaine S. A. Reflectometer Calibration Without an Open Circuit / S. A. Chaine, B. Huyart, J. Achkar // IEEE Trans. Instrum., Meas. — 2003. — Vol. 53, No. 5. — P. 1488–1493.
Hoer C. A. A network analyzer Incorporating two six–port reflectometers / C. A. Hoer // IEEE Trans. Microwave Theory Tech. — 1977. — Vol. 25. No. 12. — P. 1070–1080.

Опубліковано

2007-10-09

Як цитувати

Гимпилевич, Ю. Б., Вертегел, В. В., & Носкович, В. И. (2007). Повышение быстродействия измерения комплексных параметров микроволновых устройств методом 12-полюсного рефлектометра. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 50(10), 72–78. https://doi.org/10.20535/S0021347007100093