Розмиті осциляційні спектри у діелектричних матеріалах

Автор(и)

  • Юрій Михайлович Поплавко Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського", Україна https://orcid.org/0000-0003-2012-4556
  • Дмитро Дмитрович Татарчук Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського", Україна https://orcid.org/0000-0003-1171-6701
  • Юрій Вікторович Діденко Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського", Україна https://orcid.org/0000-0001-7305-8519
  • Дмитро Чипегін Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського", Київ, Україна https://orcid.org/0000-0002-9276-4774

DOI:

https://doi.org/10.20535/S0021347023110031

Ключові слова:

діелектрична проникність, діелектрична спектроскопія, діелектричний спектр, діелектричні матеріали, релаксатор, осцилятор, розмиті спектри

Анотація

Діелектрична спектроскопія широко використовується для дослідження електронних матеріалів. При обробці експериментальних даних для отримання параметрів досліджуваного матеріалу часто використовують релаксаційні моделі. Проте, при дослідженні композиційних матеріалів з резонансними компонентами, кристалів і полікристалів, структура яких є багатодоменною або характеризується високою ангармонічністю, перевагу слід віддавати осциляторним моделям. У статті детально розглянуто модель діелектричного дисперсійного осцилятора. Особливу увагу приділено випадку осцилятора з надвеликим загасанням. Визначено, що головною ознакою резонансної дисперсії є наявність мінімуму в частотної залежності дійсної частини діелектричної проникності.

Опубліковано

2024-08-08

Як цитувати

Поплавко, Ю. М., Татарчук, Д. Д., Діденко, Ю. В., & Чипегін, Д. (2024). Розмиті осциляційні спектри у діелектричних матеріалах. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка. https://doi.org/10.20535/S0021347023110031

Номер

Розділ

Оригінальні статті