Диэлектрическая проницаемость решетки тонких проводящих полос
DOI:
https://doi.org/10.20535/S002134701958050083Анотація
Излагается новый метод расчета диэлектрической проницаемости искусственных диэлектриков. Метод применяется для расчета решетки из проводящих полос.Посилання
- Kock, W. Е. Metallic delay lenses. Bell Labs Tech. J., v.27, n.1, p.58-82, 1948. DOI: http://doi.org/10.1002/j.1538-7305.1948.tb01331.x.
- Kharadly, М. M. Z.; Jackson, W. The properties of artificial dielectrics comprising arrays of conducting elements. Proc. IEE - Part III: Radio Commun. Eng., v.100, n.66, p.199-212, 1953. DOI: https://doi.org/10.1049/pi-3.1953.0042.
- Соhn, S. B. Analysis of the metal-strip delay structure for microwave lenses. J. Appl. Phys., v.20, n.3, p.257, 1949. DOI: https://doi.org/10.1063/1.1698352.
- Brown, J. The design of metallic delay dielectrics. Proc. IEE - Part III: Radio Commun. Eng., v.97, n.45, p.45-48, 1950. DOI: https://doi.org/10.1049/pi-3.1950.0009.
- Macfarlane, G. G. Quasi-stationary field theory and its application to diaphragms and junctions in transmission lines and wave guides. J. IEE - Part IIIA: Radiolocation, v.93, n.4, p.703-719, 1946. DOI: https://doi.org/10.1049/ji-3a-1.1946.0162.
##submission.downloads##
Опубліковано
1958-09-08
Як цитувати
Завьялов, А. С. (1958). Диэлектрическая проницаемость решетки тонких проводящих полос. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 1(5), 573–578. https://doi.org/10.20535/S002134701958050083
Номер
Розділ
Оригінальні статті
