Диэлектрическая проницаемость решетки тонких проводящих полос

Автор(и)

  • А. С. Завьялов Томский государственный университет им. В. В. Куйбышева, Russian Federation

DOI:

https://doi.org/10.20535/S002134701958050083

Анотація

Излагается новый метод расчета диэлектрической проницаемости искусственных диэлектриков. Метод применяется для расчета решетки из проводящих полос.

Посилання

Kock, W. Е. Metallic delay lenses. Bell Labs Tech. J., v.27, n.1, p.58-82, 1948. DOI: http://doi.org/10.1002/j.1538-7305.1948.tb01331.x.

Kharadly, М. M. Z.; Jackson, W. The properties of artificial dielectrics comprising arrays of conducting elements. Proc. IEE - Part III: Radio Commun. Eng., v.100, n.66, p.199-212, 1953. DOI: https://doi.org/10.1049/pi-3.1953.0042.

Соhn, S. B. Analysis of the metal-strip delay structure for microwave lenses. J. Appl. Phys., v.20, n.3, p.257, 1949. DOI: https://doi.org/10.1063/1.1698352.

Brown, J. The design of metallic delay dielectrics. Proc. IEE - Part III: Radio Commun. Eng., v.97, n.45, p.45-48, 1950. DOI: https://doi.org/10.1049/pi-3.1950.0009.

Macfarlane, G. G. Quasi-stationary field theory and its application to diaphragms and junctions in transmission lines and wave guides. J. IEE - Part IIIA: Radiolocation, v.93, n.4, p.703-719, 1946. DOI: https://doi.org/10.1049/ji-3a-1.1946.0162.

Опубліковано

1958-09-08

Як цитувати

Завьялов, А. С. (1958). Диэлектрическая проницаемость решетки тонких проводящих полос. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 1(5), 573–578. https://doi.org/10.20535/S002134701958050083

Номер

Розділ

Оригінальні статті