DOI: https://doi.org/10.20535/S002134701988010212
Открытый доступ Открытый доступ  Ограниченный доступ Доступ по подписке

Алгоритм расчета значений чувствительности вторичных параметров временных характеристик электронных схем

А. И. Петренко, В. В. Ладогубец, А. И. Цирфа

Аннотация


При решении многих задач схемотехнического проектирования, таких как параметрическая оптимизация, анализ и синтез допусков, локализация неисправностей, центрирование области работоспособности, необходимо определять значения чувствительностей выходных характеристик к изменению значений параметров отдельных компонентов электронных схем. Если в качестве выходных характеристик используются токи компонентов или узловые потенциалы схемы, то искомые величины находят с помощью хорошо известных алгоритмов моделирования чувствительности [1, 2].

Полный текст:

PDF

Литература


Петренко, А. И.; Тимченко, А. П.; Власов, А. И. Машинные методы анализа чувствительности линейных и нелинейных электронных цепей. — М. : Машиностроение, 1980. — 56 с.

Райншке, К. Модели надежности и чувствительности систем. — М. : Мир, 1978. — 452 с.

Норенков, И. П.; Мулярчик, С. Г.; Иванов, С. Р. Экстремальные задачи при схемотехническом проектировании. — Минск : БГУ, 1976. — 240 с.

Петренко, А. И.; Тимченко, А. П.; Ладогубец, В. В.; Мачуговский, В. С. Подсистема ПРАМ-01 анализа и оптимизации РЭА. Теоретические и прикладные вопросы разработки, внедрения и эксплуатации САПР РЭА. — М. : МАИ, 1983. — С. 60–62.


Метрики статей

Загрузка метрик ...

Metrics powered by PLOS ALM





© Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника, 2004–2019
При копировании активная ссылка на материал обязательна
ISSN 2307-6011 (Online), ISSN 0021-3470 (Print)
т./ф. +38044 204-82-31, 204-90-41
Условия использования сайта