О механизме радиационной чувствительности падения напряжения силового диода

Автор(и)

  • Абдулазиз Вахитович Каримов Физико-технический институт научно-производственное объединение "Физика-Солнце" Академии наук Узбекистана, Uzbekistan
  • Ахмат Зайнидинович Рахматов Открытое Акционерное общество "FOTON", Uzbekistan
  • Станислав Петрович Скорняков ОАО "Новосибирский завод полупроводниковых приборов с ОКБ", Russian Federation
  • Дильбара Мустафаевна Ёдгорова Физико-технический институт научно-производственное объединение "Физика-Солнце" Академии наук Узбекистана, Uzbekistan
  • Абдувахоб Абдусаттарович Каримов Физико-технический институт научно-производственное объединение "Физика-Солнце" Академии наук Узбекистана, Uzbekistan
  • Шукурулло Мустафаевич Кулиев Физико-технический институт научно-производственное объединение "Физика-Солнце" Академии наук Узбекистана, Uzbekistan

DOI:

https://doi.org/10.20535/S0021347017060048

Ключові слова:

силовой диод, падение прямого напряжения, облучение электронами, время жизни неосновных носителей

Анотація

Проведены экспериментальные исследования зависимости падения прямого напряжения и вольтамперной характеристики кремниевого силового диода от дозы облучения электронами. Установлено, что с увеличением дозы облучения от 2×1014 до 2×1015 Фe/см2прямое падение напряжения на диоде монотонно увеличивается, а времена жизни неосновных носителей заряда уменьшаются до одного порядка. В формировании вольтамперной характеристики после облучения электронами, наряду с уменьшением времени жизни неосновных носителей, преобладающую роль играет уменьшение концентрации основных носителей базы.

Посилання

Абдуллаев, О. Р.; Дренин, А. С.; Лагов, П. Б.; Филатов, М. Ю. Влияние радиационной обработки быстрыми электронами на кремниевые высокочастотные p-i-n-диоды с барьером Шоттки. Наукоемкие технологии, Т. 14, № 11, С. 51–56, 2013. URL: http://www.radiotec.ru/catalog.php?cat=jr8&art=13609.

Лыков, А. И.; Синицын, В. С.; Савельев, А. А. Радиационное управление свойствами первичных преобразователей температуры. Труды Одесского политехнического университета, № 1, С. 1–2, 2004. URL: http://opu.ua/upload/files/fspi/SavTrOPU2004.pdf.

Жукова, Н. С.; Крымко, М. М.; Ледовских, А. П.; Максимов, А. Н.; Сопов, О. В. Анализ способов снижения времени восстановления обратного сопротивления мощных быстродействующих диодов. Электронная техника. Сер. 2. Полупроводниковые приборы, № 1, С. 83-87, 2010. URL: https://elibrary.ru/item.asp?id=15103376.

Рахматов, А. З.; Каримов, А. В.; Сандлер, Л. С.; Ёдгорова, Д. М.; Скорняков, С. П. Влияние гамма- и электронного облучения на ключевые параметры мощных высокочастотных диффузионных диодов. Компоненты и технологии, № 10, С. 140–142, 2013.

Sze, S. M.; Ng, Kwok K. Physics of Semiconductor Devices, 3rd ed. Hoboken–New Jersey: Wiley–Interscience, 2007. 832 р. ISSN: 978-0-471-14323-9.

Вологдин, Э. Н.; Лысенко, А. П. Радиационные эффекты в некоторых классах полупроводниковых приборов. М., 2001. С. 5–7.

Гуртов, В. А. Твердотельная электроника. М., 2005. С. 158–159.

Опубліковано

2017-06-29

Як цитувати

Каримов, А. В., Рахматов, А. З., Скорняков, С. П., Ёдгорова, Д. М., Каримов, А. А., & Кулиев, Ш. М. (2017). О механизме радиационной чувствительности падения напряжения силового диода. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 60(6), 348–352. https://doi.org/10.20535/S0021347017060048

Номер

Розділ

Оригінальні статті