Бирюк, Н. Д., Ю. Б. Нечаев, і С. Ю. Алёхин. «Критерии устойчивости параметрической системы двух связанных контуров с внешнекондуктивной связью». Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, т. 51, вип. 9, Вересень 2008, с. 51-59, doi:10.20535/S0021347008090057.