Н. Д. Бирюк, Ю. Б. Нечаев, і С. Ю. Алёхин, «Критерии устойчивости параметрической системы двух связанных контуров с внешнекондуктивной связью», Вісті вузів. Радіоелектроніка, т. 51, вип. 9, с. 51–59, Вер 2008.