[1]
О. Л. Балышева, В. В. Клудзин, С. В. Кулаков, і О. В. Шакин, «Акустооптический метод неразрушающего контроля качества кристаллов для акустоэлектроники», Вісті вузів. Радіоелектроніка, т. 57, вип. 11, с. 31–37, Лис 2014.