С. В. Чирчик, «Дослідження рекомбінаційних параметрів нерівноважних носіїв заряду у технологічних пластинах Si тепловізійним методом», Вісті вузів. Радіоелектроніка, т. 63, вип. 9, с. 570–579, Лис 2020.