ЧИРЧИК, С. В. Дослідження рекомбінаційних параметрів нерівноважних носіїв заряду у технологічних пластинах Si тепловізійним методом. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, [S. l.], v. 63, n. 9, p. 570–579, 2020. DOI: 10.20535/S0021347020090034. Disponível em: https://radio.kpi.ua/article/view/S0021347020090034. Acesso em: 23 лис. 2024.