Бирюк, Н. Д., Нечаев, Ю. Б., & Алёхин, С. Ю. (2008). Критерии устойчивости параметрической системы двух связанных контуров с внешнекондуктивной связью. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 51(9), 51–59. https://doi.org/10.20535/S0021347008090057