(1)
Белоглазов, В. В.; Бирюк, Н. Д.; Юргелас, В. В. Анализ свободных процессов в параметрическом контуре методом обобщенных характеристических уравнений. Вісті вузів. Радіоелектроніка 2010, 53, 32-40.