(1)
Балышева, О. Л.; Клудзин, В. В.; Кулаков, С. В.; Шакин, О. В. Акустооптический метод неразрушающего контроля качества кристаллов для акустоэлектроники. Вісті вузів. Радіоелектроніка 2014, 57, 31-37.