Бирюк, Н. Д.; Нечаев, Ю. Б.; Алёхин, С. Ю. Критерии устойчивости параметрической системы двух связанных контуров с внешнекондуктивной связью. Вісті вузів. Радіоелектроніка 2008, 51, 51-59.