[1]
Белоглазов, В.В., Бирюк, Н.Д. і Юргелас, В.В. 2008. Анализ устойчивости параметрического контура методом Ляпунова–Четаева. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка. 51, 3 (Бер 2008), 27–37. DOI:https://doi.org/10.20535/S0021347008030047.