Бирюк, Н.Д., Нечаев, Ю.Б. і Алёхин, С.Ю. 2008. Критерии устойчивости параметрической системы двух связанных контуров с внешнекондуктивной связью. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка. 51, 9 (Вер 2008), 51–59. DOI:https://doi.org/10.20535/S0021347008090057.