[1]
Балышева, О.Л., Клудзин, В.В., Кулаков, С.В. і Шакин, О.В. 2014. Акустооптический метод неразрушающего контроля качества кристаллов для акустоэлектроники. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка. 57, 11 (Лис 2014), 31–37. DOI:https://doi.org/10.20535/S0021347014110041.