Сравнение методов получения фазовых фотоответных изображений при сканировании полупроводниковых гетероструктур перпендикулярно плоскости p–n перехода - Коленов, Сергей Александрович (Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 2015)
Проведен сравнительный анализ фазовых методов исследования фотоэлектрического отклика на примере сканирования полупроводниковой структуры лазерного диода на основе AlGaInP в направлении, перпендикулярном плоскости p–n перехода. Экспериментально выявлено и теоретически обосновано различие в результатах, получаемых с помощью фазового и дифференциально-фазового методов исследования. Показано, что дифференциально-фазовый метод исследования позволяет получать дополнительную информацию об оптических свойствах материалов гетероструктуры, которая отсутствует в результатах, получаемых фазовым методом.