Чирчик СВ. Дослідження рекомбінаційних параметрів нерівноважних носіїв заряду у технологічних пластинах Si тепловізійним методом. Вісті вузів. Радіоелектроніка [інтернет]. 26, Листопад 2020 [цит. за 20, Квітень 2024];63(9):570-9. доступний у: https://radio.kpi.ua/article/view/S0021347020090034