Чирчик, С. В. (2020). Дослідження рекомбінаційних параметрів нерівноважних носіїв заряду у технологічних пластинах Si тепловізійним методом. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 63(9), 570–579. https://doi.org/10.20535/S0021347020090034