DOI: https://doi.org/10.20535/S00213470197511012X
Открытый доступ Открытый доступ  Ограниченный доступ Доступ по подписке

Определение точного отклонения схемных функций при больших изменениях параметров компонентов линейных электронных схем

Н. Н. Казанджан, Н. В. Скоробогатько, М. А. Терешин

Аннотация


Получены формулы, связывающие отклонение схемных функций с изменениями параметров компонентов схемы. Использование формулы для разложения определителя по параметрам зависимых источников позволяет на основе матрицы проводимости пассивной части схемы анализировать схемы с четырьмя типами зависимых источников. Приведен алгоритм расчета суммарных алгебраических дополнений высоких порядков, входящих в формулы.


Полный текст:

PDF

Литература


Каширский И. С. Минимизация чувствительности радиотехнических схем методом «Крутых оврагов» / И. С. Каширский // Радиоэлектроника. — 1969. — Т. 12, № 8. — С. 845. — (Известия вузов МВиССО СССР).

Нагорный Л. Я. Изменение коэффициентов передачи по напряжению и току четырехполюсника при вариации двух параметров элементов схемы / Л. Я. Нагорный // Автоматика и телемеханика. — 1963. — Т. 24, № 10.

Сешу С. Линейные графы и электрические цепи / С. Сешу, М. Б. Рид. — М. : Высшая школа, 1971.

Рысин В. С. Анализ электронных схем, содержащих управляемые источники / В. С. Рысин // Автоматизация проектирования в электронике : Сб. — К. : Техніка, 1970. — № 2.

Гантмахер Ф. Р. Теория матриц / Ф. Р. Гантмахер. — М. : Наука, 1966.

Сигорский В. П. Анализ электронных схем / В. П. Сигорский. — К. : Гостехиздат УССР, 1964.

Зуховицкий С. М. Линейное и выпуклое программирование / С. М. Зуховицкий, X. М. Авдеева. — М. : Наука, 1967.


Метрики статей

Загрузка метрик ...

Metrics powered by PLOS ALM





© Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника, 2004–2019
При копировании активная ссылка на материал обязательна
ISSN 2307-6011 (Online), ISSN 0021-3470 (Print)
т./ф. +38044 204-82-31, 204-90-41
Условия использования сайта