Акустооптический метод неразрушающего контроля качества кристаллов для акустоэлектроники

Автор(и)

  • Ольга Леонидовна Балышева Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения, Russian Federation
  • Виктор Владимирович Клудзин Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения, Russian Federation
  • Сергей Викторович Кулаков Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения, Russian Federation
  • Олег Васильевич Шакин Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения, Russian Federation

DOI:

https://doi.org/10.20535/S0021347014110041

Ключові слова:

акустоэлектроника, акустооптика, акустооптический метод, неразрушающий контроль, кристалл, метод теневых изображений, акустическая волна

Анотація

Предложен акустооптический вариант реализации метода неразрушающего контроля качества кристаллов. Показаны возможности метода для исследования свойств кристаллов, применяемых в акустоэлектронных устройствах. Применен акустооптический метод «теневых» изображений. Визуализизация структуры акустических полей позволила оценить оптическую однородность материала и зафиксировать пространственные характеристики акустических волн, эффекты расходимости и отклонения направления распространения от волновой нормали.

Посилання

da Cunha M. P. Investigation on recent quartz-like materials for SAW applications / M. P. da Cunha, S. Azevedo Fagundes // IEEE Trans. Ultrason., Ferroelectrics, and Frequency Control. — Nov. 1999. — Vol. 46, No. 6. — P. 1583–1590. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/58.808884.

Александров К. С. Эффективные пьезоэлектрические кристаллы для акустоэлектроники, пьезотехники и сенсоров / К. С. Александров. — Новосибирск : СО РАН, 2007. — 501 с.

Langasite SAW device with gas-sensitive layer / Peng Zheng, Tao-Lun Chin, D. Greve, I. Oppenheim, V. Malone, T. Ashok, J. Miller, Limin Cao // IEEE Int. Ultrasonics Symp. : IUS, 11–14 Oct. 2010, San Diego, CA, USA : proc. — IEEE, 201. — P. 1462–1465. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/ULTSYM.2010.5935779.

Langasite: High temperature properties and SAW simulations / M. Weihnacht, A. Sotnikov, H. Schmidt, B. Wall, R. Grunwald // IEEE Int. Ultrasonics Symp. : IUS, 7–10 Oct. 2012, Dresden, Germany. — IEEE, 2012. — P. 1549–1552. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/ULTSYM.2012.0387.

Комоцкий В. А. Методика и экспериментальные результаты измерения частотных характеристик поверхностных акустических волн методом лазерного зондирования / В. А. Комоцкий, С. А. Окот // Научная сессия МИФИ. — 2005. — Т. 4. — С. 255–256.

Accurate crystal structure refinement of La3Ta0.25Zr0.50Ga5.25O14 / A. P. Dudka, R. Chitra, R. R. Choudhury, Yu. V. Pisarevsky, V. I. Simonov // Crystallography Rep. — Nov. 2010. — Vol. 55, No. 6. — P. 1060–1066. — DOI : http://dx.doi.org/10.1134/S1063774510060246.

Study of the defect structure of paratellurite crystal using multiwave diffraction and normal X-ray diffractometry methods / N. V. Marchenkov, A. E. Blagov, B. A. Lomonov, Yu. V. Pisarevsky, M. V. Kovalchuk // Crystallography Rep. — Mar. 2013. — Vol. 58, No. 2. — P. 201–203. — DOI : http://dx.doi.org/10.1134/S1063774513020168.

Measurement of piezoelectric constants of lanthanum-gallium tantalate crystal by X-ray diffraction methods / A. E. Blagov, N. V. Marchenkov, Yu. V. Pisarevsky, P. A. Prosekov, M. V. Kovalchuk // Crystallography Rep. — Jan. 2013. — Vol. 58, No. 1. — P. 49–53. — DOI : http://dx.doi.org/10.1134/S1063774513010057.

Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения. Справочное пособие. — Режим доступа : http://libgost.ru/posobie/63549–Tekst_Posobie_Sistema_nerazrushayushego_kontrolya_Vidy_metody_i_tehnologiya_nerazrushayushego_kontrolya_Terminy_ i_opredeleniya_Spravochnoe_posobie.html. — Дата доступа 11.2013.

ГОСТ 23479–79. Контроль неразрушающий. Методы оптического вида. Общие требования.

Breazeale M. A. Schlieren photography in physics / M. A. Breazeale // Proc. SPIE. — 1998. — Vol. 3581. — P. 41–47. — DOI : http://dx.doi.org/10.1117/12.330504.

Hanafy A. Quantitatrve real-time pulsed Schlieren imaging of ultrasonic waves / A. Hanafy, C. I. Zanelli // IEEE Int. Ultrasonics Symp. : IUS, 8–11 Dec. 1991, Orlando, FL, USA : proc. — IEEE, 1991. — Vol. 2. — P. 1223–1227. — DOI : http://dx.doi.org/10.1109/ULTSYM.1991.234310.

Stanic S. Quantitative Schlieren visualization / Steve Stanic // Appl. Optics. — 1978. — Vol. 17, No. 5. — P. 837–842. — DOI : http://dx.doi.org/10.1364/AO.17.000837.

Campbell C. K. Surface Acoustic Wave Devices for Mobile and Wireless Communications / C. K. Campbell. — Boston : Academic Press, Inc., 1998.

Kludzin V. V. Criteria for comparing the acoustic self-collimating modes in acousto-optic crystals / V. V. Kludzin, V. S. Kulakov // Surface Waves in Solid and Layered Structures : IV Int. Symp., 7–12 June 1998, St. Petersburg, Russia : proc. — St. Petersburg, 1998. — P. 325–335.

Опубліковано

2014-11-20

Як цитувати

Балышева, О. Л., Клудзин, В. В., Кулаков, С. В., & Шакин, О. В. (2014). Акустооптический метод неразрушающего контроля качества кристаллов для акустоэлектроники. Вісті вищих учбових закладів. Радіоелектроніка, 57(11), 31–37. https://doi.org/10.20535/S0021347014110041

Номер

Розділ

Оригінальні статті